三坐標(biāo)接觸式測頭與影像儀光學(xué)測頭優(yōu)缺點(diǎn)總結(jié)

眾所周知，接觸式測頭是三坐標(biāo)測量時常見的標(biāo)準(zhǔn)配件，而光學(xué)測頭則是影像儀采集工件信息的重要來源。光學(xué)觸頭和接觸式測頭是相互補(bǔ)充的關(guān)系，并不存在巨大的優(yōu)劣之分。

下面，我們從三個方面來分析三坐標(biāo)接觸式測頭和影像儀光學(xué)測頭

一、分類

三維光學(xué)測頭分為三種不同的分類：點(diǎn)光源、線光源、面光源。通常根據(jù)不同的應(yīng)用場景選擇不同的測頭，而影像儀光學(xué)測頭的應(yīng)用主要分為表面數(shù)字化和三維測量兩大類，二者依據(jù)生成的是點(diǎn)云還是是三角網(wǎng)格進(jìn)行區(qū)分。

二、優(yōu)點(diǎn)總結(jié)

影像儀光學(xué)測頭具有測量速度快，曲面數(shù)據(jù)易獲取；輕松測量柔軟、易碎、不可接觸、薄件、毛皮、變形細(xì)小等工件，無接觸力，不會傷害精密表面。對于一些特殊的零件，光學(xué)測頭的優(yōu)勢占據(jù)上風(fēng)，能很好彌補(bǔ)了三坐標(biāo)接觸式測頭在這一類應(yīng)用上的不足。

說完影像儀光學(xué)測頭相較于三坐標(biāo)接觸式測頭有哪些優(yōu)勢，接下來談?wù)劷佑|式測頭在實(shí)際應(yīng)用時的優(yōu)點(diǎn)，接觸式測頭具有測量精度高、可直接測量到工件特定的幾何特征的優(yōu)勢，如一些徑深很小、很細(xì)的孔時，光學(xué)測頭的光線無法觸及，但測針的測球部位可以去接觸被測物體進(jìn)行采點(diǎn)，；另外，一些需要L型測針的場合，接觸式測頭能很快的完成測量任務(wù)。

三、缺點(diǎn)總結(jié)

光學(xué)測量相對接觸式測量而言，測量精度相對不是太高， 對于有陡峭面的工件，難以獲取幾何特征，在測量中會存在測量死角；工件表面與探頭表面不是垂直，測量會存在一定誤差；工件表面的明暗程度會影響測量的精度。

選擇三坐標(biāo)接觸式測量需要逐點(diǎn)測量，速度慢測量前需做半徑補(bǔ)償，接觸力大小會影響測量值，接觸力會造成工件及探頭表面磨損影響光滑度；傾斜面測量時，不易補(bǔ)償半徑，精度難以保證；測量工件內(nèi)部時，形狀尺寸會影響測量。

三坐標(biāo)接觸式測頭與影像儀光學(xué)測頭兩者之間更多的是互相補(bǔ)充的關(guān)系，需要用戶在認(rèn)清自身應(yīng)用場景下選擇正確的測頭。隨著測量技術(shù)的不斷發(fā)展與完善，許多非接觸式測頭也可以測量微觀形貌，并且精度較高，復(fù)合式影像測量儀通過一臺設(shè)備集成光學(xué)測頭、接觸式測頭、激光測頭，一次性測量全部要素，發(fā)展趨勢不容小覷。